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科研速递论坛»论坛 › 文献速递区 › Standards&Patents Request|标准专利 › Completed Archives for S & P|成功归档 › 表面化学分析深度剖析溅射深度测量

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表面化学分析深度剖析溅射深度测量

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发表于 2014-9-12 20:29:37 |只看该作者 |倒序浏览

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专利国别	中国
专利名称	Surface chemical analysis - Depth profiling - Measurment of sputtered depth
专利号	ISO/TR 15969:2001
专利链接	http://www.sac.gov.cn/SACSearch/search?channelid=160591&templet=gjcxjg_detail.jsp&searchword=STANDARD_CODE='GB/T%2029557-2013'&XZ=T
标准国别	中国
标准类别	G04
标准名称	表面化学分析深度剖析溅射深度测量
标准号	GB/T 29557-2013
标准年份	2013
标准链接	http://www.sac.gov.cn/SACSearch/search?channelid=160591&templet=gjcxjg_detail.jsp&searchword=STANDARD_CODE='GB/T%2029557-2013'&XZ=T

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Ferrari 查看完整内容

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沙发

发表于 2014-9-12 20:29:38 |只看该作者

ok
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发表于 2014-9-30 08:04:45 |只看该作者

Ferrari 发表于 2014-9-12 20:29
ok
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谢谢~~

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