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[成功] Characterization of sharp interfaces and delta doped layers in semiconductors

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发表于 2013-11-28 23:21:56 |只看该作者 |倒序浏览

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题名	Characterization of sharp interfaces and delta doped layers in semiconductors using secondary ion mass spectrometry
作者	M.G. Dowsett, R.D. Barlow
杂志	Analytica Chimica Acta
年\|卷\|期	Volume 297, Issues 1–2, 31 October 1994
页码	Pages 253–275
链接	http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/0003267093E0568R

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gyrowheel 查看完整内容

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沙发

发表于 2013-11-28 23:21:57 |只看该作者

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发表于 2013-11-28 23:22:11 |只看该作者

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