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[成功] Effects of conducting defects on resistive switching characteristics of SiN x...

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楼主

发表于 2016-3-9 15:37:58 |只看该作者 |倒序浏览

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题名	Effects of conducting defects on resistive switching characteristics of SiN x -based resistive random-access memory with MIS structure
链接	http://scitation.aip.org/content/avs/journal/jvstb/33/6/10.1116/1.4931946

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lben85 查看完整内容

http://disk.680.com/i2636r

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沙发

发表于 2016-3-9 15:37:59 |只看该作者

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