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[成功] Study on Oxide Thickness Dependence of Current-Voltage Characteristics for Hf...

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发表于 2015-7-26 10:03:28 |只看该作者 |正序浏览

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题名	Study on Oxide Thickness Dependence of Current-Voltage Characteristics for HfOx Based ReRAM Device
链接	http://ecst.ecsdl.org/content/64/14/93

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http://1000eb.com/1ezuw

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なつめたかし

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沙发

发表于 2015-7-26 10:06:01 |只看该作者

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なつめたかし

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楼主

发表于 2015-7-26 10:03:29 |只看该作者

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