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标题: Accurate S-Parameter Measurement for Wafer Level [打印本页]

作者: bobhit    时间: 2015-1-15 21:16
标题: Accurate S-Parameter Measurement for Wafer Level
本帖最后由 bobhit 于 2015-1-15 21:26 编辑

Accurate S-Parameter Measurement for Wafer Level   本技术手册是agilent专家制作,对电子工程,特别是对微波和半导体相关专业的朋友在解决wafer层面S参数测试问题,求得实际DUT参数时具有很大帮助

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作者: strange007    时间: 2016-6-16 23:15
好东东,谢谢分享




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