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题名 | Atomistic study of dynamics for metallic filament growth in conductive-bridge random access memory | 链接 | http://xueshu.baidu.com/s?wd=paperuri%3A%28436ed8c18bd07d787b33ee5531f777e0%29&filter=sc_long_sign&tn=SE_xueshusource_2kduw22v&sc_vurl=http%3A%2F%2Fpubs.rsc.org%2Fen%2Fcontent%2Farticlepdf%2F2015%2FCP%2FC4CP04903A&ie=utf-8 |
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