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[成功] Microscopic origin of read current noise in TaOx-based resistive switching me...

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发表于 2016-5-23 08:26:14 |只看该作者 |正序浏览

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题名	Microscopic origin of read current noise in TaOx-based resistive switching memory by ultra-low temperature measurement
链接	http://scitation.aip.org/content/aip/journal/apl/108/15/10.1063/1.4945790

本帖最后由 tookey0116 于 2016-5-23 08:30 编辑

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楼主

发表于 2016-5-23 08:26:15 |只看该作者

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