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标题: 表面化学分析 深度剖析 溅射深度测量 [打印本页]
作者: Anthea14    时间: 2014-9-12 20:29
标题: 表面化学分析 深度剖析 溅射深度测量
专利国别中国
专利名称Surface chemical analysis - Depth profiling - Measurment of sputtered depth
专利号ISO/TR 15969:2001
专利链接http://www.sac.gov.cn/SACSearch/search?channelid=160591&templet=gjcxjg_detail.jsp&searchword=STANDARD_CODE='GB/T%2029557-2013'&XZ=T
标准国别中国
标准类别G04
标准名称表面化学分析 深度剖析 溅射深度测量
标准号GB/T 29557-2013
标准年份2013
标准链接http://www.sac.gov.cn/SACSearch/search?channelid=160591&templet=gjcxjg_detail.jsp&searchword=STANDARD_CODE='GB/T%2029557-2013'&XZ=T

作者: Ferrari    时间: 2014-9-12 20:29
ok
http://1000eb.com/z4dt
作者: Anthea14    时间: 2014-9-30 08:04
Ferrari 发表于 2014-9-12 20:29
ok
http://1000eb.com/z4dt

谢谢~~



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